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高分子フィルムを用いたフィルムコンデンサの信頼性評価と工程監査の勘所
～フィルムコンデンサを使った電子機器のトラブルの現状、市場トラブル原因の推定、トラブルを起こさないための部品選定時のコツ、市場環境での寿命予測の方法、不安全問題に対する解析方法、市場トラブル品の故障解析事例～
受講可能な形式
趣旨
過去からフィルムコンデンサを使った電子機器の市場トラブルが多く、現在まで改善が進んでいないのが現状です。
この市場トラブルを未然に防止するために、部品を選定する際の注意事項やのコツや工程監査の仕方、並びに寿命目標をクリアするための信頼性加速試験の条件設定の方法を詳細に紹介します。
受講対象者
製品・回路設計、製品評価・実験、および品質保証業務に携わっている技術者。
最近、信頼性評価や試験業務に携わった方々には特に有益です。
| 日時 | 2026年2月27日13:00～16:30 |
|---|---|
| 講師 | 本山 晃（M.A信頼性技術オフィス 代表） |
| 講師略歴 | ・1977年4月：松下電工㈱入社 綜合技術研究所配属 |
| 受講料 | 45,000円/1名（税別） |
| 会場 | WEBセミナー（ZOOM） |
| 主催会社 | ゴムタイムス社 |
| 配布方法 | 冊子のテキストで配布 ※本セミナー資料の無断転載、二次利用、講義の録音・録画などの行為を固く禁じます。 |
| お申込み | このセミナーに申込む |
プログラム
1.フィルムコンデンサを使った電子機器のトラブルの現状
2. 市場トラブル原因の推定
1.1 短寿命となったトラブル原因の考察
1.2 発煙・発火を伴うトラブル原因の考察
3. トラブルを起こさないための部品選定時のコツ
3.1 自社の信頼性目標に合致した仕様書を取り交わす
3.2 サプライヤー工程監査のポイント
4. 市場環境での寿命予測の方法
4.1 故障時間分布を考える
4.2 寿命予測に用いる劣化加速モデル
4.3 フィルムコンデンサの劣化モードの考察
4.4 劣化加速モデル式の設定(温度・湿度)
5. 不安全問題に対する解析方法
5.1 フィルムの発煙・発火モード
5.2 発煙・発火レベルを検証
おまけ．市場トラブル品の故障解析事例
注意事項
セミナーの録画・撮影・テキストの複製は固くお断り致します。本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信対応セミナーとなります。
Zoom(ズーム)のやり方などでお困りの方は、セミナー当日までに設定や使い方をご指導致します。
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